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紫外輻照計 SDR254

紫外輻照計SDR254采用的是UVC探頭，測試波長230nm-280nm，中心波長254nm。用用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。該儀器用于紫外殺菌燈、滅蚊燈、鞋廠、皮具廠等的紫外輻照度測量工作。
編號：
C20160415162
本店價：
￥2800.00
市場價：
￥2800
數量： 剩余庫存：9999
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紫外輻照計SDR254采用的是UVC探頭，測試波長230nm-280nm，中心波長254nm。用用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。該儀器用于紫外殺菌燈、滅蚊燈、鞋廠、皮具廠等的紫外輻照度測量工作。
 
主要技術指標
* 波長范圍及峰值波長：
230nm-280nm；λp =254nm
* 功率測量范圍： 0 - 20000 uW/cm2
* 測量精度：±5 %
* 分辨率： 0.1 uW/cm2
              0.1mj/cm2
* 電源：1000mAH鋰離子電池
* 外形尺寸： 
主機：長156*寬75*高22mm(毫米)
探頭：長32*寬36*高14mm(毫米)
* 感光孔徑： ￠8mm
* 標準線：線長1米,加長須定制
* 取樣時間：約0.5秒
* 數據記錄：循環記錄10組數據
* 重量： 360克 
* 使用溫度：
主機：-20至60°C(攝氏度)
探頭：-20至100°C(攝氏度)
* 承受溫度：120°C(攝氏度)條件下持續照射不超過20秒

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